Atomic Force Microsopy(AFM)의 이해와 다른 characterization method와의 연계
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작성일 19-10-20 15:23
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Silica 표면에 silica sphere를 adhesion시킨 것으로 각 surface의 전처리 따라 adhesion force의 alteration(변화) 정…(To be continued )
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여기서는 지금까지 AFM이 어떤식으로 응용되어 왔는지 살펴보고 AFM의 활용에 대한 발전방안을 알아보고자 한다.[4]
상온에서의 humidity의 影響으로 인한 capillary force 유발은 일부實驗에서는 그 影響이 적은 것으로 나타났다.[3]
이를 통해서 image의 resolution에 影響을 주는 인자는 humidity와 building and acoustic vibration외에 feedback loop의 gain도 작용함을 알 수 있따
Building vibration은 accelerometer로 측정(measurement)하여 G 정도면 양호하며, acoustic vibration은 angstrom 단위로 작업시 tip과 sample에 쉽게 影響을 주어 image에 noise를 발생시킨다. 즉 silica particle의 width에 대한 TEM결과와 비교할 때 10%이내의 오차를 보여서 adsorbed water layer의 影響이 적었다. 이를 해결하기 위해서는 vibration isolation table을 사용하고 주변에는 전자기장 발생 장치를 제거하고 소음저감 설비를 하는게 좋다.
설명
SPM 관련 개발 기술로는 LFM(Lateral Force Microscope): 표면의 마찰력을 재는 원자현미경, FMM(Force Modulation Microscope): 시료의 경도(硬度)를 재는 원자현미경, PDM(Phase Detection Microscope) : 시료의 탄성 및 점성등을 재는 원자현미경, MFM(Magnetic Force Microscope): 자기력(磁氣力)을 재는 원자현미경, EFM(Electrostatic Force Microscope): 시료의 전기적 특성을 재는 원자현미경, SCM(Scanning Capacitance Microscope): capacitance를 재는 원자현미경, EC-SPM(Electrochemistry Scanning Probe Microscope): 시료의 전기화학적 성질을 측정하는 원자현미경 등이 있다.여기서는 지금까지 AFM이 어떤식으로 응용되어 왔는지 살펴보고 AFM의 활용에 대한 발전방안을 알아보고자 한다.
SPM 관련 개발 기술로는 LFM(Lateral Force Microscope): 표면의 마찰력을 재는 원자현미경, FMM(Force Modulation Microscope): 시료의 경도(硬度)를 재는 원자현미경, PDM(Phase Detection Microscope) : 시료의 탄성 및 점성등을 재는 원자현미경, MFM(Magnetic Force Microscope): 자기력(磁氣力)을 재는 원자현미경, EFM(Electrostatic Force Microscope): 시료의 전기적 특성(特性)을 재는 원자현미경, SCM(Scanning Capacitance Microscope): capacitance를 재는 원자현미경, EC-SPM(Electrochemistry Scanning Probe Microscope): 시료의 전기화학적 성질을 측정(測定) 하는 원자현미경 등이 있다아
Atomic Force Microsopy(AFM)의 이해와 다른 characterization method와의 연계
1. Introduction
2. AFM 이해 및 장치의 최적화
Cantilevers
Tip characterization
Sample preparation
Resolution enhancement
3. Sample의 mechanical properties 측정(measurement)
Adhesion
Hardness
Friction
4. Morphology measurements
5. 다른 characterization method와의 연계
6. Future Perspective
AFM은 PID feedback controller를 사용하고 있는데, 각 controller의 mode에 따른 image의 oscillation 정도 alteration(변화) 를 확인할 수 있따 즉 over-tuned feedback loop의 경우 발생되는 잔주름 image의 현상을 제어할 수 있으며, sample마다 다른 값을 갖는다.[1] 그러나 원천적으로 water vapor에 의한 tip contamination을 막기 위해서는 vacuum에서 작업을 하거나 liquid medium에 담궈 tapping mode로 실시할 수 있따[4]
3. Sample의 mechanical properties 측정(measurement)
Adhesion
Particle aggregation, friction, adhesive 등 입자의 접착성을 정량적으로 안다는 것은 중요하다. , Atomic Force Microsopy(AFM)의 이해와 다른 characterization method와의 연계공학기술레포트 ,
레포트/공학기술
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